高壓電氣設(shè)備內(nèi)部過熱缺陷的特點(diǎn)是：

故障點(diǎn)密封在絕緣材料或金屬外殼中，由于紅外線的穿透能力較弱，紅外輻射基本不能穿透絕緣材料和設(shè)備外殼，所以無法直接用紅外熱成像裝置檢測內(nèi)部熱缺陷。但內(nèi)部過熱缺陷一般都發(fā)熱時(shí)間長而且比較穩(wěn)定。故障點(diǎn)的熱量可以通過熱傳導(dǎo)和對流置換方式，與故障點(diǎn)周圍的導(dǎo)體或絕緣材料發(fā)生熱量傳遞，引起這些部位的溫度升高，特別是與其有電氣連接的導(dǎo)體也是傳熱的良導(dǎo)體，會(huì)有顯著的溫升。