通常一臺(tái)設(shè)備里面有許多個(gè)集成電路，當(dāng)拿到一部有故障的集成電路的設(shè)備時(shí)，想要找到故障所在必須通過(guò)檢測(cè)，集成電路行之有效的檢測(cè)方法包括：

1.微處理器集成電路的檢測(cè)

微處理器集成電路的關(guān)鍵測(cè)試引腳是VDD電源端、RESET復(fù)位端、XIN 晶振信號(hào)輸入端、XOUT晶振信號(hào)輸出端及其他各線輸入、輸出端。在路測(cè)量這些關(guān)鍵腳對(duì)地的電阻值和電壓值，看是否與正常值(可從產(chǎn)品電路圖或有關(guān)維修資 料中查出)相同。不同型號(hào)微處理器的RESET復(fù)位電壓也不相同，有的是低電平復(fù)位，即在開(kāi)機(jī)瞬間為低電平，復(fù)位后維持高電平;有的是高電平復(fù)位，即在開(kāi) 關(guān)瞬間為高電平，復(fù)位后維持低電平。

2.開(kāi)關(guān)電源集成電路的檢測(cè)

開(kāi)關(guān)電源集成電路的關(guān)鍵腳電壓是電源端(VCC)、激勵(lì)脈沖輸出端、電壓檢測(cè)輸入端、電流檢測(cè)輸入端。測(cè)量各引腳對(duì)地的電壓值和電阻值，若與正常值相差較大，在其外圍元器件正常的情況下，可以確定是該集成電路已損壞。內(nèi)置大功率開(kāi)關(guān)管的厚膜集成電路，還可通過(guò)測(cè)量開(kāi)關(guān)管C、B、E極之間的正、反向電阻值，來(lái)判斷開(kāi)關(guān)管是否正常。

3.音頻功放集成電路的檢測(cè)

檢查音頻功放集成電路時(shí)，應(yīng)先檢測(cè)其電源端(正電源端和負(fù)電源端)、音頻 輸入端、音頻輸出端及反饋端對(duì)地的電壓值和電阻值。若測(cè)得各引腳的數(shù)據(jù)值與正常值相差較大，其外圍元件與正常，則是該集成電路內(nèi)部損壞。對(duì)引起無(wú)聲故障的 音頻功放集成電路，測(cè)量其電源電壓正常時(shí)，可用信號(hào)干擾法來(lái)檢查。測(cè)量時(shí)，萬(wàn)用表應(yīng)置于R×1檔，將紅表筆接地，用黑表筆點(diǎn)觸音頻輸入端，正常時(shí)揚(yáng)聲器中 應(yīng)有較強(qiáng)的“喀喀”聲。

4.運(yùn)算放大器集成電路的檢測(cè)

用萬(wàn)用表直流電壓檔，測(cè)量運(yùn)算放大器輸出端與負(fù)電源端之間的電壓值(在靜態(tài)時(shí)電壓值較高)。用手持金屬鑷子依次點(diǎn)觸運(yùn)算放大器的兩個(gè)輸入端(加入干擾信號(hào))，若萬(wàn)用表表針有較大幅度的擺動(dòng)，則說(shuō)明該運(yùn)算放大器完好;若萬(wàn)用表表針不動(dòng)，則說(shuō)明運(yùn)算放大器已損壞。

5.時(shí)基集成電路的檢測(cè)

時(shí)基集成電路內(nèi)含數(shù)字電路和模擬電路，用萬(wàn)用表很難直接測(cè)出其好壞。測(cè)試電路由阻容元件、發(fā)光二極管LED、6V直流電源、電源開(kāi)關(guān)S和8腳IC插座組成。將時(shí)基集 成電路(例如NE555)插信IC插座后，按下電源開(kāi)關(guān)S,若被測(cè)時(shí)基集成電路正常，則發(fā)光二極管LED將閃爍發(fā)光;若LED不亮或一直亮，則說(shuō)明被測(cè)時(shí)基集成電路性能不良。